不同于现有的CMOS和非晶硅成像技术，本项目采用国际公认的下一代平板探测器基板技术——金属氧化物基板技术。不仅具有成本优势，而且读取速度更快，分辨率更高，X光剂量更低，信噪比更好，基板尺寸更大，适用于中高端X光平板探测器。搭配无机钙钛矿闪烁体技术，更可以引领下一代射线成像技术革命，在医学成像、无损检测、安全检查、放射性防护、天体研究、地质勘探、高能物理研究等领域扩展更多应用。

目前已经成功生产金属氧化物平板探测器样品，并向客户开始送样